SIC MARKING, l’expert en marquage.
Présentation de SIC MARKING
Fort de ses 30 ans d’expérience, Sic Marking, maitrise plusieurs technologies de marquage : marquage par Micro Percussion, marquage Laser et marquage par Rayage.
Ils proposent des solutions robustes, techniquement à la pointe et adaptées aux environnements industriels exigeants de leurs clients.
SIC MARKING, Leader mondial
des solutions de marquage
& de traçabilité.
« Nous avons fais la refonte du contrôleur Laser.
De ce fait, grâce à cette refonte, nous avons amélioré le produit en gagnant en performance et en réactivité. Tout en apportant également de nouvelles fonctionnalités dans un produit fiable.
Cela s’est accompagné par une augmentation significative de nos ventes en répondant plus largement aux nouveaux besoins du marché. »
Le choix de MAATEL
XD : « En tant que partenaire industriel historique, MAATEL comprend nos produits et anticipe leurs besoins avec efficacité. Son savoir-faire en innovation électronique nous guide vers des solutions performantes et un développement technologique durable. »
Du sur-mesure pour vos besoins spécifiques
XD : « De plus, grâce à son expertise, MAATEL nous a conseillés et assistés dans la mise en œuvre de solutions électroniques optimisées en termes de coût et de qualité. Par la prise en charge de la réalisation complète des produits et de leur cycle de vie : Étude, développement, qualification, design, industrialisation, certification, SAV, obsolescence/remplacement… Cela nous permet de concentrer nos ressources R&D sur notre cœur de métier : Le marquage et la traçabilité. »
MAATEL & SIC MARKING : une collaboration à succès
XD : « Nous souhaitons continuer à développer nos compétences en électronique pour mieux définir nos besoins et valoriser nos échanges avec MAATEL lors des choix technologiques. »
Consultez le site officiel de SIC MARKING pour en savoir plus
Merci à monsieur Xavier DUCRET, Responsable R&D SIC MARKING pour son témoignage client.
Article rédigé par Melina BRUNIE PETER, Chargée de communication.
